Fotogalvaanika: mooduli praod, kuumad kohad ja PID-efektid on kolm olulist tegurit, mis mõjutavad kristallilisest ränist fotogalvaaniliste moodulite toimimist. Täna näitan teile rakulõhede põhjuseid, kuidas neid tuvastada ja vältida.
1. Fotogalvaaniliste moodulite pragude teke ja klassifitseerimine
Cracks are a relatively common defect in crystalline silicon photovoltaic modules. In layman's terms, they are micro-cracks that are invisible to the naked eye. Due to the characteristics of its own crystal structure, crystalline silicon components are very prone to cracking. In the process flow of crystalline silicon module production, many links may cause cell cracks. The root cause of cracks
Väline jõud: akut mõjutab välisjõud keevitamise, lamineerimise, raamimise või käsitsemise, testimise jne ajal. Kui parameetrid on valesti seatud, põhjustab seadme rike või ebaõige kasutamine pragusid.
Kõrge temperatuur: elementi ei eelsoojendata madalal temperatuuril, seejärel satub see lühikese aja jooksul ootamatult kõrgele temperatuurile ja seejärel paisub, mis põhjustab pragusid, nagu liigne keevitustemperatuur, lamineerimistemperatuuri ebamõistlik seadistus ja muud parameetrid.
Tooraine: tooraine defektid on samuti üks peamisi pragunemist põhjustavaid tegureid.
Lahtri prao kuju järgi võib selle jämedalt jagada 5 tüüpi: puupragu, laiaulatuslik pragu, kaldus pragu, paralleelne siiniga, risti võrega ja praod, mis läbivad kogu rakku.
2. The impact of "cracking" on component performance
Kristallilise räni päikesepatareide tekitatud voolu koguvad ja ekspordivad peamiselt siiniliinid ja õhukesed võrguliinid, mille pinnad on üksteisega risti. Seega, kui praod (enamasti siinidega paralleelsed praod) põhjustavad õhukeste võreliinide purunemise, ei edastata voolu tõhusalt siinidele, mille tulemuseks on elemendi osaline või isegi rike ning võib tekkida ka praht, kuumad kohad jne. ., põhjustavad samal ajal komponentide võimsuse nõrgenemist.
Third, the method of identifying "cracks"
EL (elektroluminestsents, elektroluminestsents) on omamoodi päikesepatareide või komponentide sisemiste defektide tuvastamise seade, mis on lihtne ja tõhus meetod pragude tuvastamiseks. Kasutades kristallilise räni elektroluminestsentsi põhimõtet, jäädvustatakse komponendi lähi{0}}infrapunakujutis suure-eraldusvõimega infrapunakaameraga, et saada ja määrata komponendi defektid. Selle eelisteks on kõrge tundlikkus, kiire tuvastamise kiirus ja intuitiivsed tulemused. Alloleval pildil on EL-i testitulemus, millel on selgelt näha erinevad defektid ja praod.
Fourth, the reasons for the formation of "cracks"
There are many factors that cause module cracks, and there are many types of cracks, but not all cracks will affect the cells, not to mention "hidden" discoloration, as long as scientific prevention can properly prevent the modules from cracking. During the production process, improper external force intervention should be avoided for the cells, and attention should be paid to the temperature range of the storage environment. During the welding process, the battery should be kept warm in advance (hand welding). The temperature of the soldering iron should meet the requirements. In the process of module production, transportation, installation and maintenance, considering the cracking characteristics of crystalline silicon modules, it is necessary to pay attention to and improve the operation process in each process of installing the power station to minimize the occurrence of module cracks.
Viis, fotogalvaaniliste moodulite pragude vältimise peamised punktid
In the production process and subsequent storage, transportation, and installation, avoid improper external force intervention on the battery cells, and also pay attention to the temperature change range of the storage environment.
与此原文有关的更多信息要查看其他翻译信息,您必须输入相应原文